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Was ist TESTMETRIX®?

Ein großer Teil der Entwicklungszeit geht in die Fehlerursachenanalyse. In der Regel wird die Fehleranalyse komplexer, je größer die Abhängigkeiten innerhalb des Gesamtsystems sind.

TESTMETRIX® ist eine Plattform, die die Fehlerursachenanalyse speziell für Embedded-Testläufe vereinfacht, indem relevante Testartefakte konsolidiert und die Traceability (Rückverfolgbarkeit) maximiert wird.



Aktueller Stand der Embedded-Test-Welt

Embedded-Systeme bestehen aus verschiedenen Software- und Hardware-Subsystemen. Durch diese verschiedenen Abhängigkeiten entstehen häufig Fehler, die nicht sofort ersichtlich sind.

Um Bugs frühzeitig zu finden, setzen Embedded-Softwareentwickler häufig auf zusätzlich selbst entwickelte Testsysteme, die genau auf das jeweilige Embedded-System zugeschnitten sind. Zudem werden immer häufiger Hardware-in-the-Loop-Testsysteme entwickelt, um die Embedded-Software bereits während der Entwicklung kontinuierlich und automatisiert auf echter Hardware zu testen.

Dadurch entsteht eine weitere Abhängigkeit – zwischen dem Embedded-System und dem dazugehörigen Testsystem. Auch dieses Testsystem ist ein eigenes Softwareprojekt und häufig auch ein Embedded-Projekt für sich.



Herausforderung bei der Fehleranalyse

Durch diese Entwicklungen können Fehler zwar früher gefunden werden, die Fehlerursachenanalyse bleibt jedoch mühsam.

Testdaten sind häufig verstreut.

auf dem Device under Test (DuT)
auf dem Testsystem
innerhalb der CI/CD-Pipeline
Weitere Quellen
häufig im Backend


Rolle von TESTMETRIX®

Durch die Anbindung von TESTMETRIX® werden all diese verschiedenen Testdaten konsolidiert und im Kontext visualisiert.
Dadurch wird die Fehlerursachenanalyse erheblich vereinfacht.

Device under Test (DuT)
Testsystem
CI/CD-Pipeline
Backend
Weitere Quellen
TESTMETRIX®
Konsolidiert & visualisiert


Wie funktioniert TESTMETRIX®?


1
Tests ausführen
2
Erzeugte Test-Reports und relevante Artefakte per REST-API hochladen
3
Testdaten und Testfällle werden im Kontext visualisiert
4
Ergebnis
Beschleunigte Fehlerursachenanalyse


Weitere Vorteile im Überblick


Lückenlose Nachverfolgbarkeit von Software- & Hardware-Versionen zwischen DuT und Testsystem
Einfache CI/CD-Integration via REST-API
Dediziertes Management für Hardware-in-the-Loop-Teststände (HiL)
Visualisierung physikalischer & digitaler Metriken
Stabilität von HiL-Systemen verbessern
Skalierung vom DuT (Device under Test) zum SuT (System under Test) beschleunigen


FAQs



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