Was ist TESTMETRIX®?
Ein großer Teil der Entwicklungszeit geht in die Fehlerursachenanalyse. In der Regel wird die Fehleranalyse komplexer, je größer die Abhängigkeiten innerhalb des Gesamtsystems sind.
TESTMETRIX® ist eine Plattform, die die Fehlerursachenanalyse speziell für Embedded-Testläufe vereinfacht, indem relevante Testartefakte konsolidiert und die Traceability (Rückverfolgbarkeit) maximiert wird.
Für wen ist TESTMETRIX® geeignet?
TESTMETRIX® wurde für Engineering-Teams entwickelt, die mit hardwarenahen und komplexen Testinfrastrukturen arbeiten.
Und eignet sich besonders für:
- Embedded-Systeme (elektronische Systeme)
- Verteilte Systeme
- HiL- (Hardware-in-the-Loop) und komplexe SiL-Systeme (Software-in-the-Loop)
- System- und Integrationstests
TESTMETRIX® ist ideal für Teams, deren Testdaten über mehrere Systeme, Tools und Teststände verteilt sind und die für eine effiziente Fehlerursachenanalyse eine zentrale Sicht auf ihre Testläufe benötigen.
Aktueller Stand der Embedded-Test-Welt
Embedded-Systeme bestehen aus verschiedenen Software- und Hardware-Subsystemen. Durch diese verschiedenen Abhängigkeiten entstehen häufig Fehler, die nicht sofort ersichtlich sind.
Um Bugs frühzeitig zu finden, setzen Embedded-Softwareentwickler häufig auf zusätzlich selbst entwickelte Testsysteme, die genau auf das jeweilige Embedded-System zugeschnitten sind. Zudem werden immer häufiger Hardware-in-the-Loop-Testsysteme entwickelt, um die Embedded-Software bereits während der Entwicklung kontinuierlich und automatisiert auf echter Hardware zu testen.
Dadurch entsteht eine weitere Abhängigkeit – zwischen dem Embedded-System und dem dazugehörigen Testsystem. Auch dieses Testsystem ist ein eigenes Softwareprojekt und häufig auch ein Embedded-Projekt für sich.
Herausforderung bei der Fehleranalyse
Durch diese Entwicklungen können Fehler zwar früher gefunden werden, die Fehlerursachenanalyse bleibt jedoch mühsam.
Testdaten sind häufig verstreut.
Rolle von TESTMETRIX®
Durch die Anbindung von TESTMETRIX® werden all diese verschiedenen Testdaten konsolidiert und im Kontext visualisiert.
Dadurch wird die Fehlerursachenanalyse erheblich vereinfacht.